U9320B 8500B Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM)

• Разрешение и визуализация эквивалентны таковым у обычных FE-SEM
• Полностью интегрированные возможности EDS позволяют проводить количественный элементный анализ
• Изменяемое низкое напряжение сводит к минимуму необходимость нанесения проводящего покрытия на образцы
• Программируемый X/Y/Z столик позволяет пользователю устанавливать точные координаты, сканировать и сохранять местоположения
• Конструкция электростатической линзы обеспечивает повторяемую производительность без постоянной перенастройки
• Компактный размер обеспечивает легкую установку в любой исследовательской лаборатории (не требуется специальных помещений)

Ресурсы для исследований

• Библиотека изображений FE-SEM

Удивительно компактный полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) Keysight 8500B оптимизирован для низковольтной визуализации, чрезвычайно высокого поверхностного контраста и разрешения. Эта инновационная, технологически продвинутая система также предлагает полностью интегрированные возможности энергодисперсионной спектроскопии (EDS), что позволяет проводить количественный элементный анализ в произвольных точках, на непрерывном линейном сканировании или на определяемой пользователем региональной карте. Он может обнаруживать такие легкие элементы, как углерод, вплоть до америция.

Простой в установке, готовый к работе анализатор 8500B разработан для использования практически в любой лаборатории и требует только наличия розетки переменного тока. Новая система научного уровня предлагает несколько методов низковольтной визуализации, которые улучшают контрастность поверхности и позволяют наблюдать наномасштабные особенности на самых разных наноструктурированных материалах, включая полимеры, тонкие пленки, биоматериалы и другие энергочувствительные образцы на любой подложке, даже на стекле.