Программное обеспечение для моделирования R&S®WinIQSIM2™ — генерация сигналов I/Q для стандартов цифрового радио
02.01.2025VNA source phase control options
02.01.2025
Программное обеспечение осциллографа MIPI D-PHY — тест на соответствие
Основные факты Интерфейсы тестового решения R&S®MIPI D-PHY соответствуют спецификациям MIPI и UNH-IOL V 1.1/1.2 и V 2.1/2.5 Предварительно заданные автоматизированные этапы тестирования Пошаговый мастер для руководства пользователя Понятная и полная документация по тестированию Получить предложение
0,00 ₽
Похожие товары
-
1 мВт, 808 нм лазерный диод для юстировки
21525,00 ₽Семейство продуктов включает регулируемые лазерные модули с TTL-модуляцией до 10 кГц. Доступные длины волн составляют 635, 780, 808, 850 и 980 нм. Красные и инфракрасные лазерные диоды предлагают выходную мощность от 1 до 100 мВт, при этом недорогие модули объединяют в себе электронику управления и оптические компоненты.
-
Красный литой пластиковый оптический фильтр 1×1
3063,00 ₽Описание линейки продуктов Устойчив к любым химическим веществам и растворителям (ацетон, кислоты, щелочи и спирты) Отличная термостойкость Легко поддается сверлению с использованием быстрорежущих твердосплавных коронок для установки Традиционные ограничения пластиковых материалов делают их непригодными для требовательных оптических приложений. Тем не менее, достижения в области пластиковых технологий позволили создать фильтры с характеристиками, удовлетворяющими разнообразным оптическим и экологическим требованиям.
-
Асферическая линза HOYA 0,30 NA, 8,0 мм из формованного стекла
15750,00 ₽Продукты семейства Прецизионные формованные стеклянные линзы представляют собой компактные решения для интеграции в измерительные системы. В ассортименте имеются различные стеклянные подложки HOYA. Асферические линзы, создаваемые методом формования, идеально подходят для ситуаций, требующих высококачественных линз небольшого размера, корректирующих сферическую аберрацию, благодаря уникальному запатентованному процессу литья, который обеспечивает создание прецизионных асферических поверхностей.
