OPTITEMP TCA-P40-Термопара (TC) для стандартных применений
01.01.2025SUMMIT 8800-Компьютер потока для измерения коммерческого учета (CT)
01.01.2025
OPTISYS TSS 1050 — система полного содержания взвешенных твердых частиц для гигиенических применений
4-проводной, 4…20 мА, с установленным на головке преобразователем. Технологическое соединение: G½ для гигиенических адаптеров. Макс.: 500 EBC, 2000 FAU, 5,0 г/л, 0,4% TS, +90 °C / +194 °F, 10 бар / 145 фунтов на кв. дюйм. Гигиеническая конструкция из нержавеющей стали, возможность очистки CIP/SIP.
0,00 ₽
Похожие товары
-
Объектив F-Theta Edmund Optics 100 мм, 1064 нм
139825,00 ₽Семейство продуктов идеально подходит для лазерного сканирования, обеспечивая минимальную дифракцию по всему полю и низкую ошибку волнового фронта. Предлагает большие рабочие расстояния и обширные области сканирования. В ассортименте доступны гальванометры, расширители луча и лазерные источники. Линзы F-Theta от Edmund Optics обеспечивают плоские поля в плоскости изображения сканирующих систем и используются в сочетании с гальванометрами и расширителями луча.
-
Прецизионная воздушная щель 10 мкм, размер м x 3 мм, без крепежа
24150,00 ₽Смонтированная версия продукции обеспечивает надежную механическую поддержку и идеально подходит для спектрофотометрического анализа изображений. Широко используется в оптических системах и образовательных учреждениях. Позволяет рассчитывать MTF и функцию рассеяния точки путем сканирования фокальной точки, что делает ее незаменимой для различных оптических экспериментов. Диск выполнен из нержавеющей стали.
-
Телецентрический объектив TitanTL® C-Mount 0,060X для 2/3 дюйма
993125,00 ₽Объективы TECHSPEC TitanTL представляют собой телецентрические модели с расширенным полем зрения и разрешением до 31,4 мегапикселей. Они оснащены датчиками с пикселем размером 3,45 мкм и подходят для полнокадровых систем с разными типами крепления: C-Mount, T-Mount, M58-Mount и F-Mount. Увеличение варьируется от 0,037X до 0,377X, что делает их идеальными для применения в машинном зрении и метрологии, требующих широкого охвата.
