Mitutoyo MiSTAR 555 CNC CMM
Машина Mitutoyo MiSTAR 555 CNC CMM сочетает в себе точные измерения в линии и около линии с простой в использовании, беспрецедентной универсальностью и экономией пространства, чтобы измерять почти в любом месте для любого. Разработана для использования на любом заводе, MiSTAR обеспечивает самые жесткие условия работы на заводе с самой широкой гарантией точности в диапазоне температур вместе с лучшей в своем классе скоростью привода и ускорением без ущерба для точности. MiSTAR имеет одну опорную перемещающуюся балку и шкаф для хранения всех контроллеров машины под измерительным столом, чтобы сэкономить место при установке. Это уменьшило площадь установки примерно на 70% по сравнению с обычной моделью с перемещающейся балкой.
- Технологии, такие как симметричная структура, однородный материал и температурная компенсация, обеспечивают гарантированный диапазон температур точности MiSTAR от 10 до 40ºC
- MiSTAR достигает устойчивости к загрязнениям более чем в 2 раза лучше, чем обычные CMM, внедряя новоразработанную абсолютную шкалу Mitutoyo, которая высоко устойчива к сложным условиям производственной линии
- Внедрение одноподдерживающей системы перемещения балки обеспечивает трехстороннюю открытую архитектуру, значительно упрощая задачу перемещения обрабатываемых деталей на столе измерений и с него
- С инструментами зажима и приемником поддонов, разработанными для MiSTAR, возможно быстрое наладка и измерение похожих деталей
- Использование инструментов зажима и приемника поддонов позволяет быстрое измерение схожих деталей
* Абсолютная шкала, обеспечивающая абсолютное значение для каждой точки измерения. Это исключает необходимость в операции инициализации машины.
Технические характеристики
| Technology: | Coordinate Measuring Machine – CNC |
|---|---|
| Units: | Inch, Metric |
| Resolution: | 0.000004″ (0.0001mm) |
| Guide Method: | Linear guide each axis |
| Vibration Stand: | Not Applicable |
| Probe System: | PH10MQ, PH6M |
| Touch Trigger Probe: | TP200 |
| Scanning Probe: | SP25 |
| Laser Probe: | Special Order |
| Optical Probe: | Special Order |
| Surface Roughness Probe: | Special Order |






