Каталог

Основные моменты
.style1 { text-transform: uppercase, letter-spacing: 0.03em, } .style2 { font-weight:300, } .style3 { text-transform: uppercase, letter-spacing: 0.03em, font-weight:300, } .rte { padding: 0, }

Измерение W7801B PathWave WaferPro WGFMU включает:

  • Бесшовную интеграцию с измерительной платформой WaferPro Express
  • Расширенное отображение и анализ данных, что позволяет сравнивать данные о шуме и моделировать их с учетом смещения ток
  • Автоматизированное управление всеми основными системами зондирования пластин
  • Несколько встроенных схем смещения для характеристики фликкер-шума
  • Данные измерений совместимы с программным обеспечением моделирования устройств Keysight
  • Анализ Ton и Toff для RTN

Измерительный пакет W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU эффективно и недорого выполняет автоматизированное измерение случайного телеграфного шума (RTN) на пластине с использованием анализатора полупроводниковых приборов B1500A с генератором сигналов B1530A/блоком быстрых измерений (WGFMU). Он может повысить эффективность измерений RTN и анализа данных, включая управление зондом пластин.

{{#ifEquals isAuthorMode ‘Y’}} {{#ifEquals isDynamicFragment ‘Y’}} {{#ifEquals isPimFlag ‘N’}}

Логотип будет отображен на допустимом пути к странице. Проверьте поле PIM_AEM_ID в PIM

{{/ifEquals}} {{#ifEquals isPimFlag ‘Y’}} {{#ifEquals isKeySightCareFlag ‘N’}}

Логотип не отображается, так как продукт не поддерживает KeysightCare

{{/ifEquals}} {{/ifEquals}} {{/ifEquals}} {{/ifEquals}} {{#ifEquals isKeySightCareFlag ‘Y’}}

{{#ifEquals isWarrantyLogoPath ‘Y’}} {{/ifEquals}}

{{/ifEquals}} {{#ifEquals isKeySightCareFlag ‘N’}}

{{#ifEquals isWarrantyLogoPath ‘Y’}} {{/ifEquals}}

{{/ifEquals}}

+79043698209
Заполните форму и мы перезвоним Вам. X