Генератор моделей W7008E PathWave IC-CAP. Моделирование повторного центрирования и углов

Моделирование повторного центрирования и углов генератора моделей W7008E PathWave IC-CAP включает:

• Простой импорт определения цели и данных с разных устройств и температур
• Простое создание масштабирование графиков целевых показателей качества в зависимости от геометрии и температуры
• Полная интеграция с генератором моделей позволяет настраивать поток извлечения, проверку и отчет
• Визуализация таблицы ошибок цели, обновленной после настройки и оптимизации
• Поддержка статистической визуализации углов
• Дополнительные 10-pk моделирования для PathWave Advanced Design System (ADS)

Поскольку спецификации полупроводникового процесса становятся более зрелыми в течение его жизненного цикла, группы моделирования должны быстро обновлять библиотеки моделей, когда появляются новые спецификации. Инструмент повторного центрирования W7008E помогает инженерам-моделистам эффективно выполнять эту задачу. Чтобы начать центрирование модели, модели транзисторов из текущей библиотеки используются в качестве точки отсчета. Затем предоставляются обновленные значения показателей качества (FOM). Эти обновленные FOM представляют новые цели по мере изменения процесса. Повторное центрирование использует методы настройки и оптимизации для корректировки важных параметров модели с целью согласования модели с новыми целями. Инструменты предоставляют возможность корректировать графики трендов в реальном времени и эффективно моделировать точки данных с различных устройств и температур.

W7008E проведет вас через необходимые шаги, от импорта целей до автоматической настройки графиков трендов для настройки и оптимизации. Кроме того, вы можете отслеживать общие ошибки с помощью удобной таблицы и создавать отчеты. Для надстройки W7008E требуется платформа моделирования W7300B PathWave IC-CAP или следующие элементы: основная среда W7001E PathWave IC-CAP и моделирование и анализ W7010E PathWave IC-CAP.