Флуоресцентный полосовой фильтр 25,0 мм, 545 нм с шириной полосы 30 нм, модель HPM545-30
06.10.2024Флуоресцентный полосовой фильтр, 25,0 мм, с центром 640 нм и шириной 60 нм, Модель: HPM640-60.
06.10.2024
Флуоресцентный полосовой фильтр 25,0 мм с центральной длиной волны 630 нм и шириной 60 нм Модель: HPX630-60.
Характеристики фильтра флуоресценции: центральная длина волны 630 нм, полоса пропускания 60 нм, диаметр 25.0 мм, толщина 4.3 мм, средняя передача не менее 90%.
52675,00 ₽
Технические характеристики
- Тип Флуоресцентный экранирующий фильтр
- Центральная длина волны 630 нм
- Полоса пропускания 60 нм
- Размер Ø25.0 мм
- Толщина 4.3 мм
- Пропускание Tavg ≥ 90%
Похожие товары
-
Микрообъектив для видеосъемки 1,68 мм с ИК-фильтром 650 нм и диафрагмой f/2,5
9800,00 ₽Продукты из семейства S-Mount представляют собой объективы размером до 2/3 дюйма с широким углом обзора и фокусным расстоянием от 1,68 до 50 мм. Эти объективы, разработанные для камер с микросенсорной платой, гарантируют высокое качество изображения в компактном корпусе, идеально подходя для сенсоров размером 2/3 дюйма и обеспечения широкоугольной съемки.
-
Минилазерный диод LDM 0,9 мВт, 670 нм
43225,00 ₽Описание линейки продуктов В наличии оптика для генерации линий Неизолированные выходы для интеграции с устройствами Фокусировка от 35 мм до бесконечности Компактные и миниатюрные лазерные диодные модули обладают множеством функций. Они являются отличной альтернативой гелий-неоновым лазерам в различных приложениях, обеспечивая превосходную долговечность, компактные размеры и широкий диапазон длин волн и мощностей. Эллиптические выходные лучи создаются с…
-
Объектив F-Theta Edmund Optics 100 мм, 1064 нм
139825,00 ₽Семейство продуктов идеально подходит для лазерного сканирования, обеспечивая минимальную дифракцию по всему полю и низкую ошибку волнового фронта. Предлагает большие рабочие расстояния и обширные области сканирования. В ассортименте доступны гальванометры, расширители луча и лазерные источники. Линзы F-Theta от Edmund Optics обеспечивают плоские поля в плоскости изображения сканирующих систем и используются в сочетании с гальванометрами и расширителями луча.
