Каталог

ОСНОВНЫЕ МОМЕНТЫ
.style1 { text-transform: uppercase, letter-spacing: 0.03em, } .style2 { font-weight:300, } .style3 { text-transform: uppercase, letter-spacing: 0.03em, font-weight:300, } .rte { padding: 0, }

  • Надежность устройства в одном месте
  • Унифицированное решение для обеспечения надежности
    оборудования и программного обеспечения
  • Алгоритмы
    Core Wafer Systems PDQ-WLR®
  • Интерактивные измерения и
    недорогой параметрический тест

Экономически эффективные, масштабируемые системы для надежности и параметрических тестов для современного производства

Семейство продуктов для проверки надежности Advanced Scalable Unified Reliability (ASUR) компании Keysight предоставляет ряд решений для различных потребностей, бюджетов, уровней опыта и стратегий. Продукт Single Device Reliability (ASUR SDR) предоставляет решение на базе ПК и приборов для тестирования надежности одного устройства за раз с умеренными инвестициями в оборудование с использованием проверенных алгоритмов тестирования надежности. ASUR SDR дополняет параллельный, многосайтовый
продукт ASUR PDR, который обеспечивает расширенный ускоренный долгосрочный тест надежности с более высокой пропускной способностью.

ASUR SDR — это высокопроизводительное, недорогое, ускоренное решение для проверки надежности и параметрических параметров для тестирования на одной площадке, которое включает проверенные ускоренные методы Core Wafer Systems PDQ-WLR с использованием решений на базе приборов. ASUR SDR является частью масштабируемого набора решений ASUR: одно оборудование, одно программное обеспечение, от приборов до системных тестеров.

Уверенное тестирование надежности

Алгоритмы тестирования надежности JEDEC Standard в ASUR находятся в пятом поколении. Этот комплект полностью протестирован и поддерживается более чем 10-летним опытом работы в полевых условиях и валидации.

  • Электромиграция (EM)
  • Напряжение смещения температуры (BTS)
  • Целостность окисла затвора (GOI)
  • Инжекция горячих носителей заряда (HCI)
  • Нестабильность температуры смещения (BTI)

Поддерживаемые приборы Keysight:

  • Keysight 4155/6 B/C
  • Матричные коммутаторы Keysight E5250, B2200 и B2201
  • Генераторы импульсов Keysight 81110A, 8114A
  • Измеритель CV Keysight 4284A
  • Анализатор импеданса Keysight 4294A
  • Keysight E5288A ASU, блок атто-сенсора
  • Системы Keysight серий 41000-400 – -100
  • Источники питания Keysight

PDQ-WLR® является зарегистрированной торговой маркой Core Wafer Systems

{{#ifEquals isAuthorMode ‘Y’}} {{#ifEquals isDynamicFragment ‘Y’}} {{#ifEquals isPimFlag ‘N’}}

Логотип будет отображен на допустимом пути к странице. Проверьте поле PIM_AEM_ID в PIM

{{/ifEquals}} {{#ifEquals isPimFlag ‘Y’}} {{#ifEquals isKeySightCareFlag ‘N’}}

Логотип не отображается, так как продукт не поддерживает KeysightCare

{{/ifEquals}} {{/ifEquals}} {{/ifEquals}} {{/ifEquals}} {{#ifEquals isKeySightCareFlag ‘Y’}}

{{#ifEquals isWarrantyLogoPath ‘Y’}} {{/ifEquals}}

{{/ifEquals}} {{#ifEquals isKeySightCareFlag ‘N’}}

{{#ifEquals isWarrantyLogoPath ‘Y’}} {{/ifEquals}}

{{/ifEquals}}

+79043698209
Заполните форму и мы перезвоним Вам. X