Каталог

Информация о системе тестирования Agilent 4352B

Система тестирования Agilent 4352B может оценивать характеристики VCO и PLL, которые необходимы для проектирования локальных осцилляторов, используемых в RF беспроводном коммуникационном оборудовании. Эта система может обеспечить как мощные аналитические возможности для оценки дизайна в лаборатории, так и высокоскоростные измерения для испытаний на производственной линии с двумя рабочими режимами: Анализатор сигнала и Тестер VCO.

Agilent 43525, состоящий из анализатора сигнала VCO/PLL Agilent 4352B и генератора сигналов низкого шума Hewlett-Packard, управляемого Agilent 4352B, охватывает частоты до 3 ГГц и может измерять основные характеристики VCO/PLL, такие как RF мощность, частота, фаза шума, спектр, частотные переходы, потребляемый ток DC и FM девиацию. Кроме того, Agilent 4352B предоставляет и контролирует источник питания DC, источник низошумящего управляющего напряжения DC и источник сигнала 1 кГц, необходимые для характеристики настройки VCO. Эта система может проводить высокоскоростные измерения благодаря специальному программному обеспечению и технологии мультимодульного PLL с захватом несущей для измерения фазы шума, что позволяет системе автоматически зафиксироваться на несущей измеряемого сигнала.

Кроме того, Agilent 4352B имеет отличные характеристики по фазе шума, такие как -157 дБц/Гц на смещении 1 МГц, что позволяет надежное и повторяемое измерение фазы шума. Модель 4352B может производить 801 точку измерения от 100 Гц до 10 МГц за 7,4 секунды/измерение.

Добавление преобразователя микроволновых частот Agilent 71707A расширяет диапазон частот до 26 ГГц. Кроме мощной возможности измерения фазы шума, Agilent 43525 может измерять частотные переходы с разрешением 50 Гц и временным разрешением 12,5 микросекунд.

Технические характеристики

Производитель Agilent, HP, Keysight
Состояние Б/У
Частота 3 ГГц

Дополнительные функции:

  • Диапазон измерений от 100 МГц до 3 ГГц
  • Источник сигнала 1 кГц
+79043698209
Заполните форму и мы перезвоним Вам. X