Описание семейства продуктов
- Идеально подходит для визуализации в светлом поле и лазерных приложениях через стекло ЖК-дисплея
- Отличная производительность на линиях лазера Nd:YAG
- Компенсирует толщину покровного стекла 0,7 мм или 1,1 мм
Объективы Mitutoyo NIR, NUV и UV LCD с коррекцией бесконечности сочетают в себе преимущества стандартных объективов серий M Plan Apo и M Plan Apo SL с расширенным спектральным диапазоном. Объективы NIR скорректированы в диапазоне от 480 до 1800 нм, что делает их идеальными для контроля полупроводников и телекоммуникаций, а также для лазерной резки с помощью обычных лазеров Nd:YAG. Серия HR предлагает увеличенную числовую апертуру, меньший размер пятна и более высокое разрешение. Объективы Mitutoyo NIR, NUV и UV LCD с коррекцией на бесконечность компенсируют стандартную толщину стекла LCD. Серии объективов NUV и UV имеют отличные характеристики на второй, третьей и четвертой гармониках Nd:YAG 532 нм, 355 нм и 266 нм соответственно.
Технические характеристики
Compatible Cover Glass Thickness (mm): 0.7
Design Wavelength DWL (nm): 266, 532
Horizontal Field of View, 1/2″ Sensor: 0.32mm
Horizontal Field of View, 2/3″ Sensor: 0.44mm
Focal Length FL (mm): 10.00
Model Number: 378-892-8
Length excluding Threads (mm): 80.00
Magnification: 20X
Maximum Diameter (mm): 34
Maximum Sensor Format: 2/3″
Numerical Aperture NA: 0.37
Mounting Threads: M26 x 36 TPI
Compatible Tube Lens Focal Length (mm): 200mm
Type: Microscope Objective
Weight (g): 370.00
Working Distance (mm): 14.98
Resolving Power (μm): 0.7
Depth of Field (μm): 2.00
Field of View, 24 Diameter Field Eyepiece (mm): 1.2
Field of View, 18 Diameter Field Eyepiece (mm): 0.9
Parfocal Length (mm): 95.22
Note: 0.7mm thick LCD cover-glass
Example Application: High magnification inspection through liquid crystal glass (LCD) or cutting and trimming of semiconductor wafer and circuits
Style: Infinity Corrected
Manufacturer: Mitutoyo
Immersion Liquid: N/A
Performance Assurance Temperature (°C): 23 ±2
Regulatory Compliance RoHS: Exempt
Certificate of Conformance: View






