-
STEM-микроскоп Talos F200X G2 для исследований и анализа в промышленности
TEM-микроскоп Thermo Scientific Talos F200X предназначен для высокоре Resolution STEM и TEM с эксклюзивным количественным химическим анализом. Он объединяет великолепные возможности получения изображений с высоким разрешением и передовое обнаружение сигналов при помощи энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS), что позволяет проводить химическую характеристику и картирование состава в 2D и 3D.
-
Измерительный микроскоп ZEISS Smartproof 5 для анализа шероховатости и контроля материалов
Интегрированный конфокальный микроскоп ZEISS Smartproof 5 предназначен для поверхностного анализа, обеспечивая контроль качества. Он подходит для различных промышленных задач, включая определение шероховатости и топографических характеристик, что делает его незаменимым в отделах контроля качества, производственных процессах и научных лабораториях.
-
Микроскоп NX5000 FIB/SEM для анализа: напольный с холодной полевой эмиссией
Hitachi Ethos FIB-SEM представляет собой современный FE-SEM с отличной яркостью и стабильностью луча. Устройство обеспечивает получение изображений с высоким разрешением при низком напряжении и интегрировано с ионной оптикой для точной обработки на наномасштабном уровне. Основные характеристики включают высокопроизводительную колонку FE-SEM с двойной линзой, позволяющую наблюдение с сверхвысоким разрешением.
