-
Leica DM4P для научных изысканий и разработок
Гибкий вертикальный микроскоп Leica DM2700 M оборудован светодиодной подсветкой, подходящей для различных методов контрастирования, включая светлое и темное поле, дифференциальный интерференционный контраст, поляризацию и флуоресценцию. Он имеет встроенную наклонную подсветку, что способствует лучшему отображению рельефа и дефектов поверхности. При необходимости микроскоп может быть дополнен осью проходящего света. Оснащен ахроматическими объективами серии N PLAN с увеличениями от 5x до 100x, полем зрения 22 мм, плоским полем изображения и значительными рабочими расстояниями.
-
Leica DM8000M DM12000 M RL Профессиональная система мониторинга качества
Системы оптического контроля Leica DM8000 M и Leica DM12000 M предлагают современное и доступное решение для эффективного выполнения задач контроля. Эти устройства обеспечивают быструю проверку и анализ дефектов в пластинах, ЖК-дисплеях и TFT. Для обнаружения макродефектов они оснащены режимом микро/макро, позволяющим быстро сканировать крупные компоненты с максимальным увеличением, охватывающим площадь около 40 мм.
-
Лейка DM4 M и DM6 M Вертикальные микроскопы для исследований материалов
Цифровые микроскопы Leica DM4 M и DM6 M предназначены для исследований в области материаловедения и обеспечения контроля качества, предоставляя точные результаты, превосходную оптику и детализированные изображения. Одним нажатием кнопки можно сохранять и загружать параметры визуализации. Высококлассные микроскопические изображения облегчают выполнение сложных задач анализа, измерения и контроля. Leica DM4 M подходит для ручных проверок, тогда как Leica DM6 M обеспечивает полностью автоматизированное исследование материалов.
-
Микроскоп Leica DM2700 M для вертикального анализа материалов
Гибкий вертикальный микроскоп Leica DM2700 M оснащен светодиодной подсветкой, поддерживающей различные методы контрастирования, включая светлое и темное поле, дифференциальный интерференционный контраст, поляризацию и флуоресценцию. Он имеет встроенную наклонную подсветку, которая улучшает видимость поверхности и дефектов, а также может быть дополнен осью проходящего света. Микроскоп оборудован ахроматическими объективами N PLAN с увеличением от 5x до 100x, полем зрения 22 мм и большими рабочими расстояниями.
-
Учебный микроскоп Leica DM750 P
Leica DM750 P — идеальный поляризационный микроскоп для университетов и других учебных заведений, предлагающий стандартный и усовершенствованный модуль объектива Бертрана для непревзойденной простоты эксплуатации. Leica DM750 P — идеальный поляризационный микроскоп для университетов и других учебных заведений, предлагающий стандартный и усовершенствованный модуль объектива Бертрана для непревзойденной простоты эксплуатации.
